Datasheet Texas Instruments SN74BCT8374ADW — Datenblatt
| Hersteller | Texas Instruments |
| Serie | SN74BCT8374A |
| Artikelnummer | SN74BCT8374ADW |
Scan-Testgerät mit kantengetriggerten Oktal-D-Flip-Flops 24-SOIC 0 bis 70
Datenblätter
Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops datasheet
PDF, 435 Kb, Revision: E, Datei veröffentlicht: Jul 1, 1996
Auszug aus dem Dokument
Anwendungshinweise
- Programming CPLDs Via the 'LVT8986 LASPPDF, 819 Kb, Datei veröffentlicht: Nov 1, 2005
This application report summarizes key information required for understanding the 'LVT8986 linking addressable scan ports (LASPs) multidrop addressable IEEE Std 1149.1 (JTAG) test access port (TAP) transceiver. This report includes information about the 'LVT8986 secondary TAPs, bypass and linking shadow protocol, scan-path description languages, serial vector format files, and an example of how to
Modellreihe
Serie: SN74BCT8374A (1)
- SN74BCT8374ADW
Herstellerklassifikation
- Semiconductors > Logic > Specialty Logic > Boundary Scan (JTAG) Logic