Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AJT — Datenblatt

HerstellerTexas Instruments
SerieSN54BCT8374A
ArtikelnummerSNJ54BCT8374AJT
Datasheet Texas Instruments SNJ54BCT8374AJT

Scan-Testgeräte mit kantengetriggerten Octal D-Flip-Flops 24-CDIP -55 bis 125

Datenblätter

Scan Test Devices With Octal D-Type Edge-Triggered Flip-Flops datasheet
PDF, 435 Kb, Revision: E, Datei veröffentlicht: Jul 1, 1996
Auszug aus dem Dokument

Preise

Status

Lifecycle StatusActive (Recommended for new designs)
Manufacture's Sample AvailabilityNo

Verpackung

Pin24242424
Package TypeJTJTJTJT
Industry STD TermCDIPCDIPCDIPCDIP
JEDEC CodeR-GDIP-TR-GDIP-TR-GDIP-TR-GDIP-T
Package QTY1111
CarrierTUBETUBETUBETUBE
Device MarkingSNJ54BCT8374AJAT5962-9172701QL
Width (mm)6.926.926.926.92
Length (mm)32323232
Thickness (mm)4.74.74.74.7
Pitch (mm)2.542.542.542.54
Max Height (mm)5.085.085.085.08
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Öko-Plan

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Modellreihe

Herstellerklassifikation

  • Semiconductors > Space & High Reliability > Logic Products > Flip-Flop/Latch/Registers